تهیه و مطالعه پوشش نانوساختار روی سولفید با استفاده (GLAD) از روش رشد زاویه‌ای خراشان

نوع مقاله : مقاله پژوهشی

نویسندگان

دانشکده فیزیک دانشگاه سمنان، سمنان، ایران

چکیده

در این پژوهش، تاثیر لایه­ های روی سولفید به صورت زیگزاگ بر ضریب شکست، ضریب خاموشی و درصد عبور و مقایسه آن با لایه­نشانی صفر درجه همین ماده پرداخته شده است. لایه­های نازک روی سولفید با روش لایه نشانی تبخیر فیزیکی بر زیر لایه شیشه لایه­نشانی شده­اند. با بررسی ویژگی نوری این نمونه­ها مشاهده شده است که با این روش لایه نشانی(زیگزاگ)، عبور نوری، ضریب جذب و ضریب خاموشی نسبت به حالت صفردرجه افزایش و ضریب شکست آن کاهش پیدا کرد. این نتیجه تاثیر روش GLAD در ویژگی نوری لایه­ های نازک را نشان می­ دهد.

کلیدواژه‌ها


عنوان مقاله [English]

Fabrication and Study of Zinc Sulfide Coating using glancing angle deposition method (GLAD)

نویسندگان [English]

  • Hossein Salmanian Nejhad
  • hassan salmaniannezhad
  • reza Zarei Moghadam
  • Mohammad hossien; ehsani
  • hamid rezagholipour Dizaji
[1] S.S. Kanu, B. Russell, Thin films for solar control applications Proc. R. Soc. Lond. Ser. A Math. Phys. Eng. Sci. 466, 19–44, 2009
[2] A.E. Hcho, M. Addou, J. L. Bubendorff, J. Ebothe, B.E. Idrssi, M. Troyon, Microstructure and cathodoluminescence study of sprayed Al and Sn doped Zns thin film, Semicond, Sci. Technol. 19, 230-235,2004.
[3] N. Young, I. Kowal, Nature, 465, 104–105, 1959.
[4] S.Z. Rahchamani, H. R. Dizaji, and M.H. Ehsani, "Study of structural and optical properties of ZnS zigzag nanostructured thin films, Applied Surface Science, 356, 1096-1104, 2015.
[5] M. Fernández-Perea, J.A. Aznárez, J. Calvo-Angós, J. I. Larruquert, and J. A. Méndez. "Far ultraviolet reflectance variation of MgF2-protected aluminum films under controlled exposure to the main components of the atmosphere. Thin Solid Films, 497, 249-253, 2006.
[6] D.C. Harris, Materials for Infrared Windows and Domes, SPIE Optical Engineering Press”70, 1999.
[7] S. Bruynooghe, D. Tonova, M. Sundermann, T. Koch, and U. Schulz, Antireflection coatings combining interference multilayers and a nanoporous MgF2 top layer prepared by glancing angle deposition, Surface and Coatings Technology, 267, 40-44, 2015.
[8] L. Yin, D. Zhang, D. Wang, X. Kong, J. Huang, F. Wang, Y. Wu,'' Size dependent photocatalytic activity of Zns nanostructures prepared by a facile precipitation method, Mater. Sci. Eng B, 208, 15-21, 2016.
[9] K. Robbie, Glancing angle deposition, PhD Thesis, University of Alberta” 1998.
[10] B. E. Warren, X-ray Diffraction, Dover, New York, 253-261, 1990.
[11] S.Z. Rahchamani, H. Rezagholipour Dizaji , M.H. Ehsani, Anisotropic optical properties of ZnS thin films with zigzag structure, 40(5), 897–905, 2017.
[12] V.A. Naidu, G.L. Narayana, K. Radhika, A. Mridula, M. B. Suresh, “Preparation, surface morphology and electrical properties of multilayer antireflection thin films, J. Mater. Today Proc. 3, 3614–3620, 2016.
[13] M. Pal, K. Hirota, H. Sakata, Electrical and optical properties of as-deposite V2O5-TiO2 amorphous films and their annealing effect, Phys. State” Solidi (a) 196, 396-405, 2003.