کلیدواژه‌ها = گاف انرژی
تغییرات خصوصیات سطح لایه نازک اکسید مس ناشی از کاشت یون نیتروژن

دوره 8، شماره 4، دی 1400، صفحه 146-152

ابراهیم غلامی حاتم؛ میترا فلاح زاده


بررسی اثر پایداری دمای زیرلایه بر کیفیت لایههای روی اکسید در روش لایه نشانی لیزری

دوره 7، شماره 1، فروردین 1399، صفحه 25-29

مهرناز سیمدار؛ فائزه حسنی؛ سیده ثریا موسوی؛ محمد امین بصام؛ بتول سجاد